原子力顯微鏡（關(guān)于原子力顯微鏡的簡(jiǎn)介）

2022-08-16 10:35:22 編輯：長(zhǎng)孫雄翰來源：

導(dǎo)讀大家好，原子力顯微鏡，關(guān)于原子力顯微鏡的簡(jiǎn)介很多人還不知道，現(xiàn)在讓我們一起來看看吧！1、原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope ，

大家好，原子力顯微鏡，關(guān)于原子力顯微鏡的簡(jiǎn)介很多人還不知道，現(xiàn)在讓我們一起來看看吧！

1、原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope ，AFM），一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。

2、它通過檢測(cè)待測(cè)樣品表面和一個(gè)微型敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì)。

3、將一對(duì)微弱力極端敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時(shí)它將與其相互作用，作用力將使得微懸臂發(fā)生形變或運(yùn)動(dòng)狀態(tài)發(fā)生變化。

4、掃描樣品時(shí)，利用傳感器檢測(cè)這些變化，就可獲得作用力分布信息，從而以納米級(jí)分辨率獲得表面形貌結(jié)構(gòu)信息及表面粗糙度信息。

本文關(guān)于原子力顯微鏡的簡(jiǎn)介就講解完畢，希望對(duì)大家有所幫助。

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